In der Fertigung optischer Bauteile werden vorzugsweise interferometrische Mess- und Prüfverfahren wie z. B. Probeglas, Fizeau- sowie Twyman-Green-Interferometer eingesetzt, um globale (Radienabweichung) und lokale Formabweichung (Unregelmäßigkeit IRR, rotationssymmetrische Unregelmäßigkeit RSI) zu bestimmen.
In dem zweitägigen Seminar werden die Grundlagen der Interferometrie zur Bestimmung der Fromabweichung, des Radius und Winkelfehler nach DIN/ISO 10110 vermittelt. Darauf aufbauend wird auf die fortgeschrittenen Themen eingegangen: Referenzierungsverfahren zur Steigerung der Genauigkeit, der interferometrischen Bestimmung von Asphären, mittel-frequente Passfehler und Bestimmung der Rauigkeit.
Begleitet wird der Theorieteil mit ausführlichen praktischen Übungen.
Zielgruppe
Feinoptiker, Techniker, Ingenieure im Bereich Entwicklung, Qualitätssicherung, Fertigung
Weitere Informationen finden Sie in unserem Flyer.
Datum
04.09.2018
- 05.06.2018
10:00 Uhr
- 16:00 Uhr
Stadt
Weiterstadt
Veranstaltungsort
Ametek Germany GmbH, BU ZYGO, Rudolf-Diesel-Str. 16, D-64331 Weiterstadt
Referenten
Dr. Hans-Martin Heuck, Leica Microsystems CMS GmbH
Veranstalter
Preis (zzgl. MwSt.)
Nicht-Mitglied: 990,00 €
Mitglieder: 830,00 €